5.4.4探傷面是曲面時(shí)，應(yīng)采用與工件曲率半徑相同或接近（0.7~1.1倍）的對(duì)比試塊來測定由于曲率不同而引起的聲能損失，其形狀和尺寸按圖3及表1。

                   圖3

5.5  耦合劑

   可采用機(jī)油、甘油、油脂等透聲性能好，且不損害工件的耦合劑。

6  探傷時(shí)機(jī)及準(zhǔn)備工作

6.1探傷原則上應(yīng)安排在*終處理后進(jìn)行，若因熱處理后鑄件形狀不適于超聲探傷，也可將探傷安排在熱處理前，但熱處理后，仍應(yīng)對(duì)其進(jìn)行盡可能完全的探傷。

6.2 鑄鋼件應(yīng)在外觀檢查合格后，方可進(jìn)行超聲探傷，所有影響超聲檢測的物質(zhì)都應(yīng)予以**。

6.3探傷面的表面粗糙度值應(yīng)為Rn3.2μm。

7  探傷方法

   工件超聲探傷以縱波直探頭和縱波雙晶直探頭為主要探傷方法。如因受工件形狀和缺陷方向的限制，無法單獨(dú)用縱波探傷進(jìn)行有效的檢測，經(jīng)供需雙方協(xié)商同意，可采用附錄A規(guī)定的橫波檢驗(yàn)方法。

7.1  探測方向

7.1.1 原則上應(yīng)從探測面上兩相互垂直的方向進(jìn)行，并應(yīng)盡量掃查到工件的整個(gè)體積。

7.1.2 主要工件的探測方向如圖4所示。 

                                     圖4

7.2  掃查

7.2.1應(yīng)對(duì)工件整個(gè)探測面進(jìn)行**連續(xù)的掃查，相鄰兩次掃查其重疊部分約為探頭晶片直徑的15%。

7.2.2掃查時(shí)，探頭移動(dòng)速度不得大于150mm/s。

7.2.3 因工件幾何形狀所限而掃查不到的區(qū)域，應(yīng)在探傷報(bào)告中予以注明。

7.3  透聲性的測定

   將縱波直探頭與工件上探測面和底面平行而且無缺陷的部位耦合接觸，調(diào)節(jié)儀器使**次底面回波幅度達(dá)到滿刻度的50%，記錄此時(shí)衰減器的讀數(shù)，再調(diào)節(jié)衰減器，使**次底面回波的幅度達(dá)到滿刻度的50%，兩次衰減器讀數(shù)之差即為該測量點(diǎn)的透聲性。測量點(diǎn)不得少于三點(diǎn)，以其平均值表示該區(qū)域的透聲性。

7.4 探傷靈敏度的確定

7.4.1縱波直探頭探傷靈敏度的調(diào)整

   首先，將工件與探測距離等于或*接近該工件厚度的標(biāo)準(zhǔn)試塊相比較，求出透聲性補(bǔ)償值和表面粗糙度補(bǔ)償值，然后在該試塊上測試，使其φ4mm平底孔的回波幅度達(dá)到滿刻度的10%~20%。不改變儀器的參數(shù)，對(duì)探測距離較小的一系列試塊逐一測試，測出其平底孔回波的**點(diǎn)，繪在熒光屏上，連接這些點(diǎn)，即可建立距離－幅度曲線，也可用A、V、G計(jì)算法或A、V、G曲線板確定其距離－幅度曲線。

7.4.2 縱波雙晶探頭探傷靈敏度的調(diào)整

   測試一組不同探測距離的φ4mm平底孔、調(diào)整衰減器，使其中**的回波幅度達(dá)到滿刻度的80%，不改變儀器的參數(shù)。對(duì)探測距離不同的平底孔逐一測試，將其回波幅度的**點(diǎn)繪在熒光屏上，連接這些點(diǎn)，即可建立距離－幅度曲線。

7.4.3  補(bǔ)償

7.4.3.1 表面粗糙度補(bǔ)償：在探傷和缺陷定量時(shí)，應(yīng)對(duì)由于表面粗糙度引起的能量消耗進(jìn)行補(bǔ)償。

7.4.3.2 透聲性補(bǔ)償：在檢測和缺陷定量時(shí)，應(yīng)對(duì)透聲性引起的探傷靈敏度和缺陷當(dāng)量的誤差進(jìn)行透聲補(bǔ)償。

7.4.3.3 曲面補(bǔ)償：對(duì)于探測面是曲面的工件，應(yīng)采用曲率半徑與工件相同或接近（0.7~1.1倍）的對(duì)比試塊來校正，否則應(yīng)進(jìn)行適當(dāng)?shù)那嫜a(bǔ)償。

7.4.4探測靈敏度不得低于**探測距離處的φ4mm平底孔當(dāng)量。

7.5 探傷靈敏度的復(fù)查

   探傷中，應(yīng)核查探傷靈敏度，發(fā)現(xiàn)探傷靈敏度有改變時(shí)，應(yīng)重新調(diào)整。當(dāng)增益電平降低2dB以上時(shí)，應(yīng)對(duì)上一次校準(zhǔn)以來所檢查的工件進(jìn)行復(fù)探；當(dāng)增益電平升高2dB以上時(shí)，應(yīng)對(duì)所有記錄缺陷進(jìn)行重新當(dāng)量。

8  缺陷檢測

8.1  記錄缺陷

8.1.1 反射回波幅度等于或高于距離－幅度曲線的缺陷。

8.1.2 在探傷靈敏度下，引起工件**次底面回波消失的缺陷。

8.1.3 出現(xiàn)平面型缺陷顯示，并被探傷人員判定為危害性的缺陷。

8.2  缺陷尺寸的測定

8.2.1當(dāng)缺陷回波幅度等于或高于距離－幅度曲線者，用6dB法在探傷面上畫出缺陷的范圍。其在工件厚度方向的尺寸，可由不同方向檢測所確定的缺陷上部和下部邊界確定。

8.2.2 凡是因存在缺陷，而使底面回波消失者，其邊緣應(yīng)從探測面上底面反射波剛好消失時(shí)的探頭中心算起到出現(xiàn)底面反射波時(shí)的探頭中心為止。缺陷的深度由一組連續(xù)缺陷回波*左側(cè)的波峰位置確定。

8.2.3 當(dāng)兩塊缺陷間距小于其中較大缺陷直徑時(shí)，兩缺陷可折合為一個(gè)缺陷，缺陷面積按實(shí)測計(jì)。

8.2.4 單個(gè)缺陷的面積以該缺陷的**尺寸與其在垂直方向的**尺寸之積計(jì)算。

8.2.5 對(duì)于有疑問的缺陷，也可采用其他行之有效的方法來進(jìn)行驗(yàn)證。

9  缺陷等級(jí)分類

9.1 在檢測區(qū)域內(nèi)不允許存在裂紋和縮孔。

9.2 缺陷在工件厚度方向的尺寸不得大于壁厚的1/8。

9.3 缺陷所在截面積指探測到缺陷部位的*小剖截面積；對(duì)于空心軸工件，其截面積應(yīng)按實(shí)心軸計(jì)算。

9.4 工件的單個(gè)缺陷等級(jí)分類按表3規(guī)定；面積類缺陷等級(jí)分類按表4規(guī)定。

                                    表3                            mm

等   級(jí)	1	2	3	4
缺陷當(dāng)量直徑	＜4	≥4~<5	≥5~<6	≥9